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In-Circuit Transistor Leakage Current Testing

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Shaifer, T. R.; Hegner, H. R.; Ashby, A. T.

作者Shaifer, T. R.; Hegner, H. R.; Ashby, A. T.
卷第13卷
期第2期
印刷ISSN0018-9456
电子ISSN1557-9662
文件大小1779.59KB
发表时间1964
DOI10.1109/tim.1964.4313374
页码52-57

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