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Technische Feinzerkleinerung mit Einzelkornbeanspruchung zwischen zwei Flächen

Technische Feinzerkleinerung mit Einzelkornbeanspruchung zwischen zwei Flächen

Dipl.-Phys. K. Schönert; Dipl.-Ing. W. v. D. Ohe; Prof. Dr.-Ing. H. Rumpf
  • 作者Dipl.-Phys. K. Schönert; Dipl.-Ing. W. v. D. Ohe; Prof. Dr.-Ing. H. Rumpf
  • 卷第37卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0009-286X
  • 电子ISSN1522-2640
  • 文件大小579.20KB
  • 发表时间1965
  • DOI10.1002/cite.330370317
  • 页码259-264
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