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Transmission Electron Microscopy of Thin Glass Samples

Transmission Electron Microscopy of Thin Glass Samples

T. P. SEWARD III; D. R. UHLMANN; DAVID TURNBULL; G. R. PIERCE
  • 作者T. P. SEWARD III; D. R. UHLMANN; DAVID TURNBULL; G. R. PIERCE
  • 卷第50卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0002-7820
  • 电子ISSN1551-2916
  • 文件大小1261.80KB
  • 发表时间1967
  • DOI10.1111/j.1151-2916.1967.tb14966.x
  • 页码25-29
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