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Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith

作者A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith
卷第7卷
期第22期
印刷ISSN0038-1098
文件大小86.95KB
发表时间1969
DOI10.1016/0038-1098(69)90056-8

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