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Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith

作者A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith
卷第31卷
期第4期
印刷ISSN0022-3697
文件大小1184.26KB
发表时间1970
DOI10.1016/0022-3697(70)90207-6
页码739-751

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