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Atomic frequency and entropy in annealing of defects in silicon

Atomic frequency and entropy in annealing of defects in silicon

M. Hirata; M. Hirata

作者M. Hirata; M. Hirata
卷第31卷
期第10期
印刷ISSN0375-9601
文件大小140.22KB
发表时间1970
DOI10.1016/0375-9601(70)90343-9
页码544-545

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