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SENSITIVE TECHNIQUE FOR STUDYING ION-IMPLANTATION DAMAGE

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EerNisse, E. P.
  • 期刊名称Applied Physics Letters
  • 作者EerNisse, E. P.
  • 卷第18卷
  • 期第12期
  • 印刷ISSN0003-6951
  • 文件大小477.08KB
  • 发表时间1971
  • DOI10.1063/1.1653549
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