Bulk lifetime determination using an MOS capacitor

• 期刊名称Proceedings of the IEEE
• 作者Huang, J.S.T.
• 卷第58卷
• 期第11期
• 印刷ISSN0018-9219
• 文件大小185.20KB
• 发表时间1970
• DOI10.1109/proc.1970.8033
• 页码1849-1850