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Radiation Effects on Commercial 4-Kilobit NMOS Memories

Radiation Effects on Commercial 4-Kilobit NMOS Memories

Myers, David K.

作者Myers, David K.
卷第23卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小716.14KB
发表时间1976
DOI10.1109/tns.1976.4328570

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