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Hall-effect determination of the N-trap bound state in GaAs1−xPx

van Ruyven, L. J.; Bluyssen, H. J. A.; van der Heijden, R. W.; Tan, T. B.; Ralph, H. I.

期刊名称Applied Physics Letters
作者van Ruyven, L. J.; Bluyssen, H. J. A.; van der Heijden, R. W.; Tan, T. B.; Ralph, H. I.
卷第31卷
期第10期
印刷ISSN0003-6951
文件大小416.60KB
发表时间1977
DOI10.1063/1.89504