发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Sub‐picosecond spectroscopy

Sub‐picosecond spectroscopy

Ippen, Erich P.; Shank, Charles V.

期刊名称Physics Today
作者Ippen, Erich P.; Shank, Charles V.
卷第31卷
期第5期
印刷ISSN0031-9228
电子ISSN1945-0699
文件大小1732.48KB
发表时间1978-05
DOI10.1063/1.2995037
页码41-47

同作者推荐

Research profitsFaller, Alan J.; Gilman, J. J.; Miller, R. H. · Physics Today · 1978
reactionDutta, D.; van Westrum, D.; Abbott, D.; Ahmidouch, A.; Amatuni, Ts. A.; Armstrong, C.; Arrington, J.; Assamagan, K. A.; Bailey, K.; Baker, O. K.; Barrow, S.; Beard, K.; Beatty, D.; Beedoe, S.; Beise, E.; Belz, E.; Bochna, C.; Bosted, P. E.; Breuer, H.; Bruins, E. E. W.; Carlini, R.; Cha, J.; Chant, N.; Chrien, R. E.; Cothran, C.; Cummings, W. J.; Danagoulian, S.; Day, D.; DeSchepper, D.; Ducret, J.-E.; Duncan, F.; Dunne, J.; Eden, T.; Ent, R.; Fortune, H. T.; Frolov, V.; Geesaman, D. F.; Gao, H.; Gilman, R.; Guèye, P.; Hansen, J. O.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Jackson, C.; Jackson, H. E.; Jones, C.; Kaufman, S.; Kelly, J. J.; Keppel, C.; Khandaker, M.; Kim, W.; Kinney, E.; Klein, A.; Koltenuk, D.; Kramer, L.; Lorenzon, W.; McFarlane, K.; Mack, D. J.; Madey, R.; Markowitz, P.; Martin, J.; Mateos, A.; Meekins, D.; Meier, E.; Miller, M. A.; Milner, R.; Mitchell, J.; Mohring, R.; Mkrtchyan, H.; Nathan, A. M.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O’Neill, T. G.; Potterveld, D.; Price, J. W.; Reinhold, J.; Salgado, C.; Schiffer, J. P.; Segel, R. E.; Stoler, P.; Suleiman, R.; Sawafta, R.; Sutter, R. J.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Terburg, B.; Welch, T. P.; Williamson, C.; Wood, S.; Yan, C.; Yang, Jae-Choon; Yu, J.; Zeidman, B.; Zhao, W.; Zihlmann, B. · Physical Review C · 2000
photoproduction on the deuteron up to 4 GeVMeekins, D. G.; Abbott, D. J.; Ahmidouch, A.; Armstrong, C. S.; Arrington, J.; Assamagan, K. A.; Baker, O. K.; Barrow, S. P.; Beatty, D. P.; Beck, D. H.; Beedoe, S. Y.; Beise, E. J.; Belz, J. E.; Bochna, C.; Bosted, P. E.; Brash, E. J.; Breuer, H.; Cadman, R. V.; Cardman, L.; Carlini, R. D.; Cha, J.; Chant, N. S.; Collins, G.; Cothran, C.; Cummings, W. J.; Danagoulian, S.; Duncan, F. A.; Dunne, J. A.; Dutta, D.; Eden, T.; Ent, R.; Filippone, B. W.; Forest, T. A.; Fortune, H. T.; Frolov, V. V.; Gao, H.; Geesaman, D. F.; Gilman, R.; Gueye, P. L. J.; Gustafsson, K. K.; Hansen, J-O.; Harvey, M.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Jackson, H. E.; Keppel, C. E.; Khandaker, M. A.; Kinney, E. R.; Klein, A.; Koltenuk, D. M.; Kumbartzki, G.; Lung, A. F.; Mack, D. J.; Madey, R.; Markowitz, P.; McFarlane, K. W.; McKeown, R. D.; Meziani, Z-E.; Miller, M. A.; Mitchell, J. H.; Mkrtchyan, H. G.; Mohring, R. M.; Napolitano, J.; Nathan, A. M.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O’Neill, T. G.; Owen, B. R.; Pate, S. F.; Potterveld, D. H.; Price, J. W.; Rakness, G. L.; Ransome, R. D.; Reinhold, J.; Rutt, P. M.; Salgado, C. W.; Savage, G.; Segel, R. E.; Simicevic, N.; Stoler, P.; Suleiman, R.; Tang, L.; Terburg, B. P.; van Westrum, D.; Vulcan, W. F.; Williamson, S. E.; Witkowski, M. T.; Wood, S. A.; Yan, C.; Zeidman, B. · Physical Review C · 1999
reactions up toGarrow, K.; McKee, D.; Ahmidouch, A.; Armstrong, C. S.; Arrington, J.; Asaturyan, R.; Avery, S.; Baker, O. K.; Beck, D. H.; Blok, H. P.; Bochna, C. W.; Boeglin, W.; Bosted, P.; Bouwhuis, M.; Breuer, H.; Brown, D. S.; Bruell, A.; Carlini, R. D.; Chant, N. S.; Cochran, A.; Cole, L.; Danagoulian, S.; Day, D. B.; Dunne, J.; Dutta, D.; Ent, R.; Fenker, H. C.; Fox, B.; Gan, L.; Gaskell, D.; Gasparian, A.; Gao, H.; Geesaman, D. F.; Gilman, R.; Guèye, P. L. J.; Harvey, M.; Holt, R. J.; Jiang, X.; Keppel, C. E.; Kinney, E.; Liang, Y.; Lorenzon, W.; Lung, A.; Mack, D. J.; Markowitz, P.; Martin, J. W.; McIlhany, K.; Meekins, D.; Miller, M. A.; Milner, R. G.; Mitchell, J. H.; Mkrtchyan, H.; Mueller, B. A.; Nathan, A.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O’Neill, T. G.; Papavassiliou, V.; Pate, S.; Piercey, R. B.; Potterveld, D.; Ransome, R. D.; Reinhold, J.; Rollinde, E.; Roos, P.; Sarty, A. J.; Sawafta, R.; Schulte, E. C.; Segbefia, E.; Smith, C.; Stepanyan, S.; Strauch, S.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Tieulent, R.; Uzzle, A.; Vulcan, W. F.; Wood, S. A.; Xiong, F.; Yuan, L.; Zeier, M.; Zihlmann, B.; Ziskin, V. · Physical Review C · 2002
, andDutta, D.; van Westrum, D.; Abbott, D.; Ahmidouch, A.; Amatuoni, Ts. A.; Armstrong, C.; Arrington, J.; Assamagan, K. A.; Bailey, K.; Baker, O. K.; Barrow, S.; Beard, K.; Beatty, D.; Beedoe, S.; Beise, E.; Belz, E.; Bochna, C.; Bosted, P. E.; Breuer, H.; Bruins, E. E. W.; Carlini, R.; Cha, J.; Chant, N.; Cothran, C.; Cummings, W. J.; Danagoulian, S.; Day, D.; DeSchepper, D.; Ducret, J.-E.; Duncan, F.; Dunne, J.; Eden, T.; Ent, R.; Fortune, H. T.; Frolov, V.; Geesaman, D. F.; Gao, H.; Gilman, R.; Guèye, P.; Hansen, J. O.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Jackson, C.; Jackson, H. E.; Jones, C.; Kaufman, S.; Kelly, J. J.; Keppel, C.; Khandaker, M.; Kim, W.; Kinney, E.; Klein, A.; Koltenuk, D.; Kramer, L.; Lorenzon, W.; Lung, A.; McFarlane, K.; Mack, D. J.; Madey, R.; Markowitz, P.; Martin, J.; Mateos, A.; Meekins, D.; Miller, M. A.; Milner, R.; Mitchell, J.; Mohring, R.; Mkrtchyan, H.; Nathan, A. M.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O’Neill, T. G.; Potterveld, D.; Price, J. W.; Reinhold, J.; Salgado, C.; Schiffer, J. P.; Segel, R. E.; Stoler, P.; Suleiman, R.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Terburg, B.; Welch, T. P.; Williamson, C.; Wood, S.; Yan, C.; Yang, J.-C.; Yu, J.; Zeidman, B.; Zhao, W.; Zihlmann, B. · Physical Review C · 2003
Measurements of Deuteron Photodisintegration up to 4.0 GeVBochna, C.; Terburg, B. P.; Abbott, D. J.; Ahmidouch, A.; Armstrong, C. S.; Arrington, J.; Assamagan, K. A.; Baker, O. K.; Barrow, S. P.; Beatty, D. P.; Beck, D. H.; Beedoe, S. Y.; Beise, E. J.; Belz, J. E.; Bosted, P. E.; Brash, E. J.; Breuer, H.; Cadman, R. V.; Cardman, L.; Carlini, R. D.; Cha, J.; Chant, N. S.; Collins, G.; Cothran, C.; Cummings, W. J.; Danagoulian, S.; Duncan, F. A.; Dunne, J. A.; Dutta, D.; Eden, T.; Ent, R.; Filippone, B. W.; Forest, T. A.; Fortune, H. T.; Frolov, V. V.; Gao, H.; Geesaman, D. F.; Gilman, R.; Gueye, P. L. J.; Gustafsson, K. K.; Hansen, J.-O.; Harvey, M.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Jackson, H. E.; Keppel, C. E.; Khandaker, M. A.; Kinney, E. R.; Klein, A.; Koltenuk, D. M.; Kumbartzki, G.; Lung, A. F.; Mack, D. J.; Madey, R.; Markowitz, P.; McFarlane, K. W.; McKeown, R. D.; Meekins, D. G.; Meziani, Z.-E.; Miller, M. A.; Mitchell, J. H.; Mkrtchyan, H. G.; Mohring, R. M.; Napolitano, J.; Nathan, A. M.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O'Neill, T. G.; Owen, B. R.; Pate, S. F.; Potterveld, D. H.; Price, J. W.; Rakness, G. L.; Ransome, R.; Reinhold, J.; Rutt, P. M.; Salgado, C. W.; Savage, G.; Segel, R. E.; Simicevic, N.; Stoler, P.; Suleiman, R.; Tang, L.; van Westrum, D.; Vulcan, W. F.; Williamson, S.; Witkowski, M. T.; Wood, S. A.; Yan, C.; Zeidman, B. · Physical Review Letters · 1998
Basic instrumentation for Hall A at Jefferson LabJ. Alcorn; B.D. Anderson; K.A. Aniol; J.R.M. Annand; L. Auerbach; J. Arrington; T. Averett; F.T. Baker; M. Baylac; E.J. Beise; J. Berthot; P.Y. Bertin; W. Bertozzi; L. Bimbot; T. Black; W.U. Boeglin; D.V. Boykin; E.J. Brash; V. Breton; H. Breuer; P. Brindza; D. Brown; E. Burtin; J.R. Calarco; L.S. Cardman; R. Carr; G.D. Cates; C. Cavata; Z. Chai; C.C. Chang; N.S. Chant; J.-P. Chen; S. Choi; E. Chudakov; S. Churchwell; M. Coman; E. Cisbani; S. Colilli; N. Colombel; R. Crateri; D.S. Dale; N. Degrande; C.W. de Jager; R. De Leo; A. Deur; G. Dezern; B. Diederich; S. Dieterich; R. di Salvo; P. Djawotho; J. Domingo; J.-E. Ducret; D. Dutta; K. Egiyan; M.B. Epstein; S. Escoffier; S. Esp; L.A. Ewell; J.M. Finn; K.G. Fissum; E. Folts; H. Fonvieille; B. Frois; S. Frullani; H. Gao; J. Gao; F. Garibaldi; A. Gasparian; A. Gavalya; O. Gayou; S. Gilad; R. Gilman; F. Giuliani; A. Glamazdin; C. Glashausser; J. Gomez; V. Gorbenko; T. Gorringe; M. Gricia; K. Griffioen; D. Hamilton; J.-O. Hansen; F.W. Hersman; D.W. Higinbotham; R. Holmes; H. Holmgren; M. Holtrop; N. d'Hose; E. Hovhannisyan; C. Howell; G.M. Huber; E. Hughes; C.E. Hyde-Wright; H. Ibrahim; S. Incerti; M. Iodice; R. Iommi; D. Ireland; S. Jaminion; J. Jardillier; S. Jensen; X. Jiang; C.E. Jones; M.K. Jones; K. Joo; C. Jutier; W. Kahl; S. Kato; A.T. Katramatou; J.J. Kelly; S. Kerhoas; A. Ketikyan; M. Khandaker; M. Khayat; K. Kino; I. Kominis; W. Korsch; S. Kox; K. Kramer; K.S. Kumar; G. Kumbartzki; M. Kuss; L. Lagamba; G. Laveissière; A. Leone; J.J. LeRose; F. Marie; L. Levchuk; M. Leuschner; D. Lhuillier; M. Liang; K. Livingston; R.A. Lindgren; N. Liyanage; G.J. Lolos; R.W. Lourie; M. Lucentini; R. Madey; K. Maeda; S. Malov; D.M. Manley; D.J. Margaziotis; P. Markowitz; J. Marroncle; J. Martine; S. Mayilyan; J.S. McCarthy; K. McCormick; J. Mclntyre; R.D. McKeown; D. Meekins; R.L.J. van der Meer; Z.-E. Meziani; R. Michaels; B. Milbrath; J.A. Miller; W. Miller; J. Mitchell; J. Mougey; S. Nanda; A. Nathan; D. Neyret; E.A.J.M. Off · 2004

← 返回【学霸图书馆】主页