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Ion beam crystallography of silicon surfaces: I. Si(100)−(1×1) 2 H

Ion beam crystallography of silicon surfaces: I. Si(100)−(1×1) 2 H

R.M. Tromp; R.G. Smeenk; F.W. Saris

作者R.M. Tromp; R.G. Smeenk; F.W. Saris
卷第104卷
期第1期
印刷ISSN0167-2584
文件大小59.32KB
发表时间1981
DOI10.1016/0167-2584(81)90179-1

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