Experimental determination of electronic transport parameters in monocrystalline metallic films
- 作者C.R. Tellier; C.R. Pichard; A.J. Tosser
- 卷第76卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0040-6090
- 文件大小567.81KB
- 发表时间1981
- DOI10.1016/0040-6090(81)90244-3
- 页码129-140
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