Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten

• 作者Dr. H. Hantsche; Dr. K.-H. Habig
• 卷第13卷
• 期第10期
• 印刷ISSN0933-5137
• 电子ISSN1521-4052
• 文件大小997.16KB
• 发表时间1982
• DOI10.1002/mawe.19820131007
• 页码361-369