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A comparison of techniques for obtaining convergent beam electron diffraction patterns with a JEOL 200CX

A comparison of techniques for obtaining convergent beam electron diffraction patterns with a JEOL 200CX

Kevin C. Lee
  • 作者Kevin C. Lee
  • 卷第10卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0304-3991
  • 文件大小673.03KB
  • 发表时间1982
  • DOI10.1016/0304-3991(82)90041-9
  • 页码217-222
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