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Semiconductor Detectors and Double Beta Decay

Goulding, F. S.; Landis, D. A.; Luke, P. N.; Madden, N. W.; Malone, D. F.; Pehl, R. H.; Smith, A. R.

作者Goulding, F. S.; Landis, D. A.; Luke, P. N.; Madden, N. W.; Malone, D. F.; Pehl, R. H.; Smith, A. R.
卷第31卷
期第1期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小4277.95KB
发表时间1984
DOI10.1109/tns.1984.4333263
页码285-299