Low-temperature exciton trapping on interface defects in semiconductor quantum wells
Bastard, G.; Delalande, C.; Meynadier, M. H.; Frijlink, P. M.; Voos, M.
- 期刊名称Physical Review B
- 作者Bastard, G.; Delalande, C.; Meynadier, M. H.; Frijlink, P. M.; Voos, M.
- 卷第29卷
- 期第12期
- 印刷ISSN0163-1829
- 文件大小189.94KB
- 发表时间1984-6-15
- DOI10.1103/PhysRevB.29.7042
- 页码7042-7044