High resolution transmission electron microscopy (HRTEM) of epitaxially grown ZnSe and ZnSe/GaAs interfaces

• 作者J. O. Williams; E. S. Crawford; J. LL. Jenkins; T. L. NG; A. M. Patterson; M. D. Scott; B. Cockayne; P. J. Wright
• 卷第3卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0261-8028
• 电子ISSN1573-4811
• 文件大小2202.90KB
• 发表时间1984-03
• DOI10.1007/bf00726789
• 页码189-193