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Techniques of Microprocessor Testing and SEU-Rate Prediction

Techniques of Microprocessor Testing and SEU-Rate Prediction

Koga, R.; Kolasinski, W. A.; Marra, M. T.; Hanna, W. A.
  • 作者Koga, R.; Kolasinski, W. A.; Marra, M. T.; Hanna, W. A.
  • 卷第32卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN0018-9499
  • 电子ISSN1558-1578
  • 文件大小1388.39KB
  • 发表时间1985
  • DOI10.1109/tns.1985.4334098
  • 页码4219-4224
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