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High-accuracy physical modeling of submicrometer MOSFET's

High-accuracy physical modeling of submicrometer MOSFET's

Wilson, C.L.; Roitman, P.; Blue, J.L.

作者Wilson, C.L.; Roitman, P.; Blue, J.L.
卷第32卷
期第7期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小2230.64KB
发表时间1985
DOI10.1109/t-ed.1985.22108
页码1246-1258

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