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Single Event Upset Rate Estimates for a 16-K CMOS SRAM

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Browning, John S.; Koga, R.; Kolasinski, W. A.

作者Browning, John S.; Koga, R.; Kolasinski, W. A.
卷第32卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小1590.53KB
发表时间1985
DOI10.1109/tns.1985.4334081
页码4133-4139

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