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TiSi mixing at room temperature: A high resolution ion backscattering study

TiSi mixing at room temperature: A high resolution ion backscattering study

E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen

作者E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen
卷第155卷
期第1期
文件大小929.70KB
发表时间1985
DOI10.1016/0039-6028(85)90405-4
页码65-78

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