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High resolution studies of NiSi2 ultrathin film formation by ion scattering and cross-section tem

High resolution studies of NiSi2 ultrathin film formation by ion scattering and cross-section tem

E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen; F. Legoues
  • 作者E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen; F. Legoues
  • 卷第154卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0167-2584
  • 文件大小101.67KB
  • 发表时间1985
  • DOI10.1016/0167-2584(85)90672-3
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