Electron temperature measurements with heavy ion beam probes

Schoch, P. M.; Goyer, J. R.; Solensten, L.; Michael, J. D.; Saravia, E.; Connor, K. A.; Jennings, W. C.; Hickok, R. L.; Bieniosek, F. M.; Bresnock, F. J.

期刊名称Review of Scientific Instruments
作者Schoch, P. M.; Goyer, J. R.; Solensten, L.; Michael, J. D.; Saravia, E.; Connor, K. A.; Jennings, W. C.; Hickok, R. L.; Bieniosek, F. M.; Bresnock, F. J.
卷第56卷
期第5期
印刷ISSN0034-6748
文件大小471.00KB
发表时间1985
DOI10.1063/1.1138263

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Electron temperature measurements with heavy ion beam probes