A Microprocessor-Based Automatic Test Controller (ATC)
Basu, P.S.; Bhanumurthy, B.S.; Basu, D.
- 期刊名称IETE Technical Review
- 作者Basu, P.S.; Bhanumurthy, B.S.; Basu, D.
- 卷第2卷
- 期第6期
- 印刷ISSN0256-4602
- 电子ISSN0974-5971
- 文件大小628.79KB
- 发表时间1985-06
- DOI10.1080/02564602.1985.11437776
- 页码201-207