Scanning tunneling microscopy of cleaved semiconductor surfaces
Feenstra, R. M.; Fein, A. P.
- 期刊名称IBM Journal of Research and Development
- 作者Feenstra, R. M.; Fein, A. P.
- 卷第30卷
- 期第5期
- 印刷ISSN0018-8646
- 电子ISSN0018-8646
- 文件大小603.93KB
- 发表时间1986-09
- DOI10.1147/rd.305.0466
- 页码466-471