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Scanning tunneling microscopy of cleaved semiconductor surfaces

Scanning tunneling microscopy of cleaved semiconductor surfaces

Feenstra, R. M.; Fein, A. P.
  • 期刊名称IBM Journal of Research and Development
  • 作者Feenstra, R. M.; Fein, A. P.
  • 卷第30卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0018-8646
  • 电子ISSN0018-8646
  • 文件大小603.93KB
  • 发表时间1986-09
  • DOI10.1147/rd.305.0466
  • 页码466-471
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