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/Si(111): Thin-film characterization by high-resolution electron-energy-loss spectroscopy

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Liehr, M.; Thiry, P. A.; Pireaux, J. J.; Caudano, R.
  • 期刊名称Physical Review B
  • 作者Liehr, M.; Thiry, P. A.; Pireaux, J. J.; Caudano, R.
  • 卷第34卷
  • 期第10期
  • 印刷ISSN0163-1829
  • 文件大小310.00KB
  • 发表时间1986-11-15
  • DOI10.1103/PhysRevB.34.7471
  • 页码7471-7474
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