ChemInform Abstract: Thin Film Properties of Sputtered Niobium Silicide on SiO
2
, Si
3
N
4
, and N+ Poly-Si.
CHOW, T. P.; LU, W. J.; STECKL, A. J.; BALIGA, B. J.
- 期刊名称Chemischer Informationsdienst
- 作者CHOW, T. P.; LU, W. J.; STECKL, A. J.; BALIGA, B. J.
- 卷第17卷
- 期第19期
- 印刷ISSN0009-2975
- 文件大小211.66KB
- 发表时间1986-05-13
- DOI10.1002/chin.198619329