发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Scanning tunneling microscopy on Si(112)

Scanning tunneling microscopy on Si(112)

Th. Berghaus; A. Brodde; H. Neddermeyer; St. Tosch
  • 作者Th. Berghaus; A. Brodde; H. Neddermeyer; St. Tosch
  • 卷第184卷
  • 印刷ISSN0167-2584
  • 文件大小45.64KB
  • 发表时间1987
  • DOI10.1016/0167-2584(87)90781-x
← 返回【学霸图书馆】主页