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In situ microanalysis for 34S/32S ratios using the ion microprobe SHRIMP

In situ microanalysis for 34S/32S ratios using the ion microprobe SHRIMP

C.S. Eldrige; W. Compston; I.S. Williams; J.L. Walshe; R.A. Both

作者C.S. Eldrige; W. Compston; I.S. Williams; J.L. Walshe; R.A. Both
卷第76卷
期第1期
印刷ISSN0168-1176
文件大小1165.88KB
发表时间1987
DOI10.1016/0168-1176(87)85011-5
页码65-83

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