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Xerographic-mode transient charge technique for probing drift mobility in high-resistivity materials†

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CHAN, ARCHIE Y. C.; JUHASZ, C.
  • 期刊名称International Journal of Electronics
  • 作者CHAN, ARCHIE Y. C.; JUHASZ, C.
  • 卷第62卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0020-7217
  • 电子ISSN1362-3060
  • 文件大小255.60KB
  • 发表时间1987-04
  • DOI10.1080/00207218708921013
  • 页码625-632
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