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Soft and hard ionization thresholds in Si and GaAs

Soft and hard ionization thresholds in Si and GaAs

Sano, Nobuyuki; Aoki, Takahiro; Yoshii, Akira
  • 作者Sano, Nobuyuki; Aoki, Takahiro; Yoshii, Akira
  • 卷第55卷
  • 期第14期
  • 电子ISSN0003-6951
  • 文件大小544.27KB
  • 发表时间1989
  • DOI10.1063/1.101612
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