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Defect-related gate oxide breakdown

Defect-related gate oxide breakdown

W. Bergholz; W. Mohr; W. Drewes; H. Wendt

作者W. Bergholz; W. Mohr; W. Drewes; H. Wendt
卷第4卷
印刷ISSN0921-5107
文件大小674.13KB
发表时间1989
DOI10.1016/0921-5107(89)90271-7
页码359-366

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