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Electronic Characterization of Defects in Iron-Doped P-Type Silicon

Electronic Characterization of Defects in Iron-Doped P-Type Silicon

Gehlhoff, W.; Irmscher, K.; Rehse, U.

期刊名称Materials Science Forum
作者Gehlhoff, W.; Irmscher, K.; Rehse, U.
电子ISSN1662-9752
文件大小356.69KB
发表时间1989
DOI10.4028/www.scientific.net/MSF.38-41.373
页码373-378

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