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Impact ionization in GaAs MESFETs

Impact ionization in GaAs MESFETs

Hui, K.; Hu, C.; George, P.; Ko, P.K.
  • 期刊名称IEEE Electron Device Letters
  • 作者Hui, K.; Hu, C.; George, P.; Ko, P.K.
  • 卷第11卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0741-3106
  • 电子ISSN1558-0563
  • 文件大小307.52KB
  • 发表时间1990-03
  • DOI10.1109/55.46951
  • 页码113-115
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