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Electroreflectance study of RuSe2

Electroreflectance study of RuSe2

Y.S. Huang; S.S. Lin; J.S. Sheu; W.M. Shen; Fred H. Pollak

作者Y.S. Huang; S.S. Lin; J.S. Sheu; W.M. Shen; Fred H. Pollak
卷第76卷
期第9期
印刷ISSN0038-1098
文件大小317.56KB
发表时间1990
DOI10.1016/0038-1098(90)90971-d
页码1093-1096

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