Low-frequency noise in small InGaAs/InP p-i-n diodes under different bias and illumination conditions

He, L.; Lin, Y.; van Rheenen, A. D.; van der Ziel, A.; Young, A.; van der Ziel, J. P.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者He, L.; Lin, Y.; van Rheenen, A. D.; van der Ziel, A.; Young, A.; van der Ziel, J. P.
卷第68卷
期第10期
印刷ISSN0021-8979
文件大小710.49KB
发表时间1990
DOI10.1063/1.347062

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