The reliability of quantitative analysis with AES
K. Yoshihara; R. Shimizu; T. Homma; H. Tokutaka; K. Goto; D. Fujita; A. Kurokawa; S. Ichimura; M. Kurahashi; M. Kudo; Y. Hashiguchi; T. Suzuki; T. Ohmura; F. Soeda; K. Tanaka; A. Tanaka; T. Sekine; Y. Shiokawa; T. Hayashi
- 作者K. Yoshihara; R. Shimizu; T. Homma; H. Tokutaka; K. Goto; D. Fujita; A. Kurokawa; S. Ichimura; M. Kurahashi; M. Kudo; Y. Hashiguchi; T. Suzuki; T. Ohmura; F. Soeda; K. Tanaka; A. Tanaka; T. Sekine; Y. Shiokawa; T. Hayashi
- 卷第16卷
- 印刷ISSN0142-2421
- 电子ISSN1096-9918
- 文件大小318.91KB
- 发表时间1990
- DOI10.1002/sia.740160127
- 页码140-143