Degradation and Improvement of Si-SiO2 Interface
- 期刊名称IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials
- 作者Yamabe, Kikuo
- 卷第110卷
- 期第8期
- 印刷ISSN0385-4205
- 电子ISSN1347-5533
- 文件大小1739.92KB
- 发表时间1990
- DOI10.1541/ieejfms1990.110.8_457
- 页码457-464
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