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$X-ray diffractometry of thin films using synchrotron radiation beams$

X-ray diffractometry of thin films using synchrotron radiation beams

L.G. Shabelnikov; A.P. Zuev

作者L.G. Shabelnikov; A.P. Zuev
卷第308卷
印刷ISSN0168-9002
文件大小168.88KB
发表时间1991
DOI10.1016/0168-9002(91)90654-9
页码305-307

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