Microstructural stability of epitaxial CoSi2/Si (001) interfaces
K. Rajan; L. M. Hsiung; J. R. Jimenez; L. J. Schowalter; K. V. Ramanathan; R. D. Thompson; S. S. Iyer
- 作者K. Rajan; L. M. Hsiung; J. R. Jimenez; L. J. Schowalter; K. V. Ramanathan; R. D. Thompson; S. S. Iyer
- 文件大小818.04KB
- 发表时间1991
- DOI10.1063/1.349026