Automated system for resistance and critical current measurements
Wnuk, J. J.; Eggenkamp, P. J. T.; van der Linden, P. J. E.; van der Steen, H. J. L.
- 期刊名称Review of Scientific Instruments
- 作者Wnuk, J. J.; Eggenkamp, P. J. T.; van der Linden, P. J. E.; van der Steen, H. J. L.
- 卷第62卷
- 期第7期
- 印刷ISSN0034-6748
- 文件大小1050.03KB
- 发表时间1991
- DOI10.1063/1.1142426