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Automated system for resistance and critical current measurements

Automated system for resistance and critical current measurements

Wnuk, J. J.; Eggenkamp, P. J. T.; van der Linden, P. J. E.; van der Steen, H. J. L.
  • 期刊名称Review of Scientific Instruments
  • 作者Wnuk, J. J.; Eggenkamp, P. J. T.; van der Linden, P. J. E.; van der Steen, H. J. L.
  • 卷第62卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN0034-6748
  • 文件大小1050.03KB
  • 发表时间1991
  • DOI10.1063/1.1142426
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