发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Defect sizing in thin components

Defect sizing in thin components

Roy, O.; Benoist, Ph.
  • 期刊名称NDT & E International
  • 作者Roy, O.; Benoist, Ph.
  • 卷第25卷
  • 印刷ISSN0963-8695
  • 文件大小142.27KB
  • 发表时间1992-8
  • DOI10.1016/0963-8695(92)90224-5
← 返回【学霸图书馆】主页