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Modeling the ion-source performance of an electron-beam ion trap (invited)

Modeling the ion-source performance of an electron-beam ion trap (invited)

Penetrante, B. M.; Schneider, D.; Marrs, R. E.; Bardsley, J. N.

期刊名称Review of Scientific Instruments
作者Penetrante, B. M.; Schneider, D.; Marrs, R. E.; Bardsley, J. N.
卷第63卷
期第4期
印刷ISSN0034-6748
文件大小1073.80KB
发表时间1992
DOI10.1063/1.1142812

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