Scanning probe microscopy for industrial applications: Selected examples
U. Dammer; D. Anselmetti; M. Dreier; J. Frommer; J. Fünfschilling; G. Gerth; H.-J. Güntherodt; H. Haefke; H.-R. Hidber; L. Howald; H. J. Hug; T. H. Jung; H. P. Lang; R. Lüthi; E. Meyer; A. Moser; I. Parashikov; P. Reimann; T. Richmond; M. Rüetschi; H. Rudin; U. D. Schwarz; U. Staufer; R. Sum
- 作者U. Dammer; D. Anselmetti; M. Dreier; J. Frommer; J. Fünfschilling; G. Gerth; H.-J. Güntherodt; H. Haefke; H.-R. Hidber; L. Howald; H. J. Hug; T. H. Jung; H. P. Lang; R. Lüthi; E. Meyer; A. Moser; I. Parashikov; P. Reimann; T. Richmond; M. Rüetschi; H. Rudin; U. D. Schwarz; U. Staufer; R. Sum
- 卷第15卷
- 期第5期
- 印刷ISSN0161-0457
- 电子ISSN1932-8745
- 文件大小3127.06KB
- 发表时间1993
- DOI10.1002/sca.4950150504
- 页码257-264