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Reliability issues of flash memory cells

Reliability issues of flash memory cells

Aritome, S.; Shirota, R.; Hemink, G.; Endoh, T.; Masuoka, F.

作者Aritome, S.; Shirota, R.; Hemink, G.; Endoh, T.; Masuoka, F.
卷第81卷
期第5期
文件大小1204.19KB
发表时间1993
DOI10.1109/5.220908
页码776-788

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