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Scanning-tunneling-microscopy investigation of the <i>p</i> (2×2) and <i>c</i> (2×2) overlayers of S on Ni(100)

Scanning-tunneling-microscopy investigation of the p (2×2) and c (2×2) overlayers of S on Ni(100)

Partridge, A.; Tatlock, G. J.; Leibsle, F. M.; Flipse, C. F. J.; Hörmandinger, G.; Pendry, J. B.
  • 期刊名称Physical Review B
  • 作者Partridge, A.; Tatlock, G. J.; Leibsle, F. M.; Flipse, C. F. J.; Hörmandinger, G.; Pendry, J. B.
  • 卷第48卷
  • 期第11期
  • 印刷ISSN0163-1829
  • 电子ISSN1095-3795
  • 文件大小1180.92KB
  • 发表时间1993-9-15
  • DOI10.1103/PhysRevB.48.8267
  • 页码8267-8276
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