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Detection of oxygen incorporated in molecular-beam epitaxy grown GaAs-on-AlAs interfaces and AlAs layers by secondary ion mass spectrometry

Someya, T.; Akiyama, H.; Kadoya, Y.; Noda, T.; Matsusue, T.; Noge, H.; Sakaki, H.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Someya, T.; Akiyama, H.; Kadoya, Y.; Noda, T.; Matsusue, T.; Noge, H.; Sakaki, H.
卷第63卷
期第14期
印刷ISSN0003-6951
文件大小546.06KB
发表时间1993
DOI10.1063/1.110650