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Light Scattering Measurements of Surface Roughness in Molecular Beam Epitaxy Growth of GaAs

Lavoie, C.; Nissen, M. K.; Eisebitt, S.; Johnson, S. R.; Mackenzie, J. A.; Tiedje, T.

期刊名称MRS Proceedings
作者Lavoie, C.; Nissen, M. K.; Eisebitt, S.; Johnson, S. R.; Mackenzie, J. A.; Tiedje, T.
卷第324卷
电子ISSN1946-4274
文件大小1286.59KB
发表时间1993-1
DOI10.1557/proc-324-119