Cation distribution investigation of the system Li0.5FexGa2.50-xO4by X-rays, electrical conductivity and Mossbauer studies
- 作者M. N. Khan; S. Al-Dallal; A. Memon; A. Ahmad; S. Shah
- 卷第28卷
- 期第22期
- 印刷ISSN0022-2461
- 电子ISSN1573-4803
- 文件大小274.38KB
- 发表时间1993-11-15
- DOI10.1007/bf00365023
- 页码6070-6073
Morphological evolution of α/γ interface in Fe-Mn-Al alloyJ. G. Duh; S. C. Lin · 1993
A Mechanical Investigation on the Phase Transition Behavior of La0.7Ca0.3MnO3—δ CeramicsX. B. Chen; J. S. Zhu; G. H. Hwang; C. M. Fu; H. M. Duh; C. H. Lin; W. S. Gao; X. Y. Mao; Y. N. Wang · 1999
Electrical measurement of a lead-free solder assembly after environmental tests by SEM internal probingT. I. Shih; Y. C. Lin; J. G. Duh; Tom Hsu; W. S. Wu · 2007
Effect of L12 ordering in antiferromagnetic Ir-Mn epitaxial layer on exchange bias of FePd filmsChang, Y. C.; Hsiao, S. N.; Liu, S. H.; Su, S. H.; Chiu, K. F.; Hsieh, W. C.; Chen, S. K.; Lin, Y. G.; Lee, H. Y.; Sung, C. K.; Duh, J. G. · Journal of Applied Physics · 2015
mixing angleChang, M.-C.; Duh, Y.-C.; Lin, J.-Y.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Bakich, A. M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Brodzicka, J.; Browder, T. E.; Chang, P.; Chen, A.; Chen, K.-F.; Chen, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Cho, I.-S.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Doležal, Z.; Drásal, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Gaur, V.; Garmash, A.; Goh, Y. M.; Golob, B.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hyun, H. J.; Iijima, T.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Iwashita, T.; Julius, T.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Kim, H. O.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Ko, B. R.; Koblitz, S.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, S.-H.; Li, J.; Li, Y.; Libby, J.; Liu, C.; Liu, Z. Q.; Louvot, R.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moll, A.; Muramatsu, N.; Nagasaka, Y.; Nakamura, I.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Pakhlova, G.; Park, C. W.; Park, K. S.; Pedlar, T. K.; Peng, T.; Pestotnik, R.; Petrič, M.; Piilonen, L. E.; Röhrken, M.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanič, S.; Starič, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Tanaka, S.; Tatishvili, G.; Teramoto, Y.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. · Physical Review D · 2012